KGD(Known Good Die)测试解决方案
支持高温常温测试：DC+SW+UIL+DC&RG； 支持测试针卡保护方案； 提供测试+分选整套方案；
|
针卡?；? |
两颗并测 |
高温常温 |
数据合并 |
| 型号 | KGD测试解决方案 |
| 产品优势 |
? 低杂散解决方案； ? 独家针卡保护专利技术； ? 过载欠压?；?； ? 一次测试两颗晶片； ? 支援高温加热 |
|
|
|
|
中国广东省佛山市南海国家高新区新光源产业基地光明大道16号 |
|
0757 83207313 (销售) |
|
0757 83208786 (销售) |
|
info@powertechsemi.com |
佛山市联动科技股份有限公司 版权所有 powertechsemi.com ? 2015 | 隐私政策 | Sitemap 粤ICP备17127080号-1
